描述 

高精度测量功能，具有无与伦比的灵活性和多功能性 MarOpto FI 1100 Z 可以对平面和球面镜头做非接触测量。此外，也可 使用透射光对光学元件或组件进行波阵面测量。可以通过简单的干涉 条纹分析或相位调制干涉分析进行测量。成熟的 IntelliWave 软件可提 供优异的测量和分析功能。多功能且可靠的 MarOpto FI 1100 Z 可以处 应对现今的高级应用并有极高的性价比。

• 全 USB 连接选项（笔记本电脑或台式机），有 1k x 1k 真实空间分辨率

• 出色的多功能性、稳定性和可重复性 

• 1x 到 6x 缩放、聚焦和衰减控制 

• 可以通过 Mahr 的 IntelliPhase™ 静态空间载波采集和分析软件实现振动 不敏感性

• 紧凑、轻巧且耐用的设计 

• 兼容所有产业标准 4” (100 mm) 参考光学元件和附件

• 经济的高精确度测量

• 配置包括卧式、立式向上、立式向下。还有可测量平面和曲率半径的 工作站可选。

应用 • 测量平、凹或凸表面 • 棱镜、角锥、楔角和均匀度测量 • 测量车削、陶瓷和晶圆表面 • 光学系统和元件的波阵面分析 • 集成到 OEM 系统