描述
• 光学 2D/3D 轮廓仪
• MarSurf CP 和 MarSurf CL select 是 光学轮廓仪，用于完成二和三维 测量，以及分析表面 - 非接触， 与材料无关，而且速度快。
• 它们的特点是能够极高速记录 大型测量表面，同时保证高测 量精度。
• 因为采用模块化设计，所以该 测量系统能够根据各种测量任务 和自动化、测量便捷性、以及精 确度要求进行调节。可以根据 测量任务选择不同的传感器。 测轴系统以及软件模块可以独 立组合。
• MarSurf CP 和 CL select 可以满足 您对自动化、测量便捷性和准确 性的个性化要求 - 甚至全自动的 测量解决方案。
• 大型 3D 测量 • 超高测量速度
• 使用自动化软件进行与用户无关 的系列测量
• 卓越的侧面可接受性
• 层厚测量和透明材料测量
• 高度测量范围大且工作距离大
• 耐用而可靠
• 用户友好的概念
• 这种成熟的光学测量系统可成 功用于：
• DIN EN ISO 4287 标准的粗糙度 测量
• 表面特征轮廓测量（包括体积、 磨损、摩擦学）
• 宏观和微观几何测量
• 测定平面度和共面度
• 用户将 MarSurf CP 和 CL select 系列 视为可为很多行业提供量化、可 跟踪的 2D/3D 特征的 测量系统。
• 标准配置: • MarSurf CP select • 色差点传感器可选 • 龙门结构包括控制电子设备，可 选型号• 电动 XYZ 工作台有多种型号可选• 工业计算机，包括两个 24 英寸 TFT 显示器• 减振系统可选• 全景相机可选• MarSurf MSW，用于直观的数据 采集 • MarSurf ASW，用于自动化（可 选） • MarSurf MfM 用于专业评定、图形 表示和创建测量记录 • （可选标准、扩展、高级版本） • MarSurf CL select • 色差线传感器可选 • 龙门结构包括控制电子设备，可 选型号
• 电动 XYZ 工作台有多种型号可选 • 工业计算机，包括两个 24 英寸 TFT 显示器 • 减振系统可选 • 全景相机可选 • MarSurf MSW，用于直观的数据 采集 • MarSurf ASW，用于自动化（可 选） • MarSurf MfM 用于专业评定、图形 表示和创建测量记录 • （可选标准、扩展、高级版本
应用
• 机械工程 ：鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量
• 电子和半导体 ： 亚微米级的组件检测，确保产品无缺陷
• 医疗技术 ：生产和实验室中医疗表面的质量保证
• 材料科学 ： 新表面和产品的功能属性的优化
• 微系统技术：以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状
