描述

• 高性能入门级解决方案

• MarSurf WI 50 M 是一台白光干涉仪，用于表面的三维测量和分析,非接触，与材料无关，而且速度快。. 

 • 全新 MarSurf WI 50 M 让亚纳米范 围内的精确测量变得简单，是完美的入门级解决方案。该系统满 足您在纳米范围内的所有测量需求 - 提供最高的性能和优异的性 价比。多功能调平工作台及手 动 X-、Y- 和 Z- 轴让调整和对焦 异常轻松。

 • 主要优势

 • 无电动轴的简单技术 

• 直观的操作

• 快速测量

• 高性价比

• 耐用而可靠

• 最大样品高度 220 mm

• 控制装置集成在支架中

• 这一全新的光学测量系统可成功用于：

• DIN EN ISO 4287 / 25178 标准的粗 糙度测量 

• 表面特征轮廓测量（包括体积、 磨损、各向同性） 

• 微观几何形状和层厚的测量 

• 用户非常重视该测量系统的可靠 性，因为它是为很多行业提供了 可定量、 可追溯的3D 参数的 测 量系统。

• 标准配置: 

• MarSurf WI 50M

• 干涉仪测量头 – HDR 相机（2 MP 或 5 MP） 

• L 型支架包括电子控制装置 

• 手动 XY 工作台 (105x220 mm)

• 手动 Z 轴 (220 mm)

• 测量系统计算机和 24 英寸 TFT 显示器

• 物镜： – 2.5x 到 100x 可选

• MarSurf MSW，用于直观的数据 采集

• MarSurf MfM 用于专业评定、图形 表示和创建测量记录

• （可选择标准、扩展或高级版 本）

应用 • 机械工程 :鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量  • 电子和半导体 :亚微米级的组件检测，确保产品无缺陷   • 医疗技术 :生产和实验室中医疗表面的质量保证   • 材料科学 : 新表面和产品的功能属性的优化 • 微系统技术: 以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状