描述 

• 定制表面测量 

• MarSurf CM select 是强大的可配置 型共聚焦显微镜，用于表面的三维测量和分析 - 非接触，与材料 无关，而且速度快. 

 • 轴和减振系统以及软件模块可 以独立组合。这使测量系统可以 适应各种测量任务。 

  • 作为一个多传感器系统，MarSurf CM select 还将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择最佳的点 传感器。

  • MarSurf CM select 可以满足您对自 动化、测量便捷性和准确性的个 性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。

 • 主要优势： 

  • 专为连续运行设计

• 自动化软件，带传输到 QA 系统 的工业接口

• 高测量速度 - 即使是在全分辨 率下

• 可根据样本大小单独配置 

• 多传感器系统

• 用户友好的概念

• 全方向碰撞检测保证您的工件和 测量系统的安全

• 高动态范围 (HDR) 功能，16 位

• HD 拼接可确保大尺寸测量表面 也有一致的高分辨率输出

• 这种成熟的光学测量系统可成功 用于：

• DIN EN ISO 4287 / 25178 标准的粗 糙度测量 

• 表面特征轮廓测量（包括体积、 磨损、摩擦学）

• 微观几何形状和层厚的测量

• 用户喜欢这种测量系统的可靠 性，因为它为很多行业提供了可 定量、可跟踪的 3D 特征的可靠 测量系统

. • 标准配置: • MarSurf CM select • 共聚焦测量头 HDR 相机（黑/白或彩色相机） 可自动识别的4孔物镜转盘 可选） • 龙门架设计包含控制电子装置 • 电动 XYZ 工作台有多种型号可选 • 工业计算机，包括两个 24” TFT 显示器 • 物镜：5x 到 100x 可选 • 有减振系统 • 多传感器系统（可选） • 全景相机（可选） • MarSurf MSW，用于直观的数据 采集 • MarSurf ASW，用于自动化（可 选） • MarSurf MfM 用于专业评定、图形 表示和创建测量记录 • （可选择标准、扩展或高级版 本）

应用 • 机械工程 : 鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量   • 电子和半导体 : 亚微米级的组件检测，确保产品无缺陷  • 医疗技术 : 生产和实验室中医疗表面的质量保证   • 材料科学 : 新表面和产品的功能属性的优化   • 微系统技术 :以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状