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3D 表面测量 MarSurfCMexpert

3D 表面测量 MarSurfCMexpert

    请选择规格

    数量:
    库存量:99999
产品特性:

适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量
地址:沈阳市铁西区建设西路17甲号
电话:15604051169

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描述

• 可自动化的高端测量系统

MarSurf CM expert 是强大的共聚 焦显微镜,用于表面的三维测量 和分析 - 非接触,与材料无关, 而且速度快

 MarSurf CM expert 有坚固的结构 且对环境振动不敏感,所以适合 测试实验室和生产环境中的质量 保证测量。 

 额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行 程范围和能够实现自动化,使其 有优异的易用性。可以执行不依 赖用户的、完全自动化的测量, 使此表面测量系统非常适合质 量保证中对简单直接和高效率 的要求。

 • 主要优势:

  使用自动化软件进行与用户无关 的系列测量 

高测量速度 - 即使是在全分辨 率下

用户友好的概念

全方向碰撞检测保证您的工件和 测量系统的安全 

高动态范围 (HDR) 功能,16 位

HD 拼接可确保大尺寸测量表面 也有一致的高分辨率输出

这种成熟的光学测量系统可成功 用于: DIN EN ISO 4287 / 25178 标准的粗 糙度测量 表面特征轮廓测量(包括体积、 磨损、摩擦学) 微观几何形状和层厚的测量 用户喜欢这种测量系统的可靠 性,因为它为很多行业提供了可 定量、可跟踪的 3D 特征 标准配置: MarSurf CM expert 共聚焦测量头 HDR 相机(黑/白或彩色相 机) 可自动识别的4孔物镜转盘 L 型支架,包括控制电子装置 电动 XY 工作台 (100x100 mm) 带 光栅尺,用于样本定位和像场合 并(“拼接”) 电动 Z 轴 (70 mm) 带光栅尺 测量系统计算机,带 24 英寸 TFT 显示器 物镜: 5x 到 100x 可选 MarSurf MSW,用于直观的数据 采集 MarSurf ASW,用于自动化(可 选) MarSurf MfM 用于专业评定、图形 表示和创建测量记录 (可选择标准、扩展或高级版

应用 • 机械工程: 鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量  • 电子和半导体 :亚微米级的组件检测,确保产品无缺陷   • 医疗技术 : 生产和实验室中医疗表面的质量保证 • 材料科学:新表面和产品的功能属性的优化  • 微系统技术: 以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状

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