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粗糙度测量站 MarSurf XR 1

粗糙度测量站 MarSurf XR 1

    请选择规格

    数量:
    库存量:99999
产品特性:

低成本且使用简便的表面计量仪
地址:沈阳市铁西区建设西路17甲号
电话:15604051169

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描述 

无论是在测量室还是生产线,该款基于计算机平台的仪器,可提 供国际标准内所有常见的参数和 轮廓,XR 1 采用了Mahr创新的粗 糙度评价系统。 

超过 80 种R-、P- 和 W 轮廓参 数,符合 ISO / JIS 或MOTIF (ISO 12085) 标准。 

带通滤波器 Ls 符合最新标 准;Ls可关闭或自定义。

全面的测量记录

使用Teach-in创建Quick&Easy 测 量程序,实现快速测量评价。

可自动判别符合ISO标准的截止 波长和扫描长度。

通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种 校准方法(静态和动态)

自定义维护或校准时间间隔。 

多种测量站配置可用于自定义 应用。

多种选项,提高系统灵活性。

多种用户权限设置,避免设备被 误用或未授权人员使用。

驱动单元和测头选项: 有导块或无导块测量。 驱动单元 MarSurf GD 26 和/或 MarSurf SD 26 和/或 MarSurf RD 18 

标准配置: MarSurf XR 1,MarWin EasyRoughness 软件,Mahr 许可密钥 带标准许可 驱动单元适配器 选配一体式计算机 MarSurf SD 26 和/或 RD 18 驱动 单元套件,包括测头系统 MFW 250 B 测头系统组 MarSurf ST-G 测量立柱 CT 120 XY 工作台

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